Profilomètre LUPHOScan pour l'inspection des lentilles optiques

La plate-forme de mesure LUPHOScan HD est un système de mesure à balayage interférométrique basé sur l'interférométrie multi-longueurs d'onde (MWLI®) Technologie.

Il est conçu pour une mesure de forme 3D ultra-précise et sans contact de surfaces symétriques en rotation, telles que les lentilles optiques asphériques, sphériques, planaires et de forme libre.

Les principales caractéristiques de cet instrument comprennent la mesure à haute vitesse, une grande flexibilité dans la mesure des surfaces spéciales (e.g., contours des points d'inflexion ou des pointes plates), et la possibilité de mesurer des objets d'un diamètre maximal allant jusqu'à 420mm.

Technologie de mesure innovante

La plate-forme de mesure LUPHOScan HD est la pionnière d'un nouveau domaine de métrologie de haute précision pour les surfaces optiques. Le système de mesure de nouvelle génération peut mesurer des angles d'objet jusqu'à 90 °, avec une précision de mesure absolue supérieure à ± 50 nm (3σ). Les résultats de mesure présentent une répétabilité extrêmement élevée et un faible bruit.

Le tout nouveau LUPHOScan HD est le choix idéal pour les applications avec des exigences de précision extrêmement élevées et est fondamental pour le contrôle des processus de production. Il peut mesurer des surfaces avec des pentes extrêmement hautes, des surfaces avec des directions d'espacement différentes et des surfaces extrêmement petites telles que des moules d'objectifs de smartphone.

Mesurer les erreurs de forme des composants optiques avec l'extension LUPHOSwap

Les plates-formes de mesure HD et LUPHOScan 260 HD 420 HD de LUPHOScan peuvent utiliser l'extension LUPHOSwap pour mesurer en continu toutes les fonctionnalités des deux surfaces d'un objectif. Un concept de mesure spécial permet la corrélation des résultats de mesure des deux surfaces. Ce concept permet à LUPHOSwap de déterminer l'épaisseur précise, l'angle de coin, l'erreur de décroissement et le positionnement de rotation des deux surfaces tout en mesurant les erreurs de forme.

• Analyse approfondie de toute surface symétrique en rotation: asphérique, sphérique, plane et forme libre.

• Haute précision: capable de mesurer des objets avec des pentes jusqu'à 90 °, ce qui le rend idéal pour mesurer des objectifs asphériques grands, raides et extrêmement petits (tels que des moules pour objectifs de smartphone).

• Polyvalence matérielle: peut mesurer n'importe quel matériau, y compris les surfaces transparentes, en miroir, opaques, polies et au sol.

• Grandes déviations sphériques: Capable de mesurer les surfaces de disque ou d'aile de mouette, ainsi que les contours des points d'inflexion.

• Répétabilité élevée des résultats de mesure: stabilité optimale pour déterminer les paramètres de puissance et de PV.

• Faible bruit du système: Robuste et non affecté par les changements environnementaux.

• Mesure à grande vitesse: capable de mesurer des diamètres jusqu'à 420mm.

Bena Optics possède actuellement un Luphoscan 420HD

Bena Optics possède actuellement un Luphoscan 420HD, qui peut inspecter avec précision divers paramètres des composants optiques. Ceci est particulièrement avantageux pour inspecter la forme de surface globale des dômes optiques, surperformant considérablement les interféromètres Zygo standard.